Thin Film Analysis by X-Ray Scattering - Birkholz, Mario (IHP Microelectronics, Frankfurt/Oder, Germany)
Wiley-VCH Verlag GmbH · EAN 9783527310524
Najlepšia cena s dopravou do: SK
180,95 €
Bookshop.cz
Porovnať a sledovať cenu v CheapChecku →Ponuky obchodov (1)
- Bookshop.cz bookshop.cz
doprava 3,24 €180,95 €Do obchodu
Ceny a dostupnosť z feedov obchodov, aktualizované denne. Odkazy môžu byť partnerské.